que golpea ligeramente AFM también sabido pues el modo de contacto intermitente es uno de varios diversos modos dinámicos del de la proyección de imagen usados en la microscopia atómica (AFM) de la fuerza. El AFM es un tipo de la microscopia de la punta de prueba de la exploración. Estos microscopios no utilizan la luz, como en microscopios convencionales, sino exploran algo una punta de prueba aguda sobre una superficie a las estructuras superficiales extremadamente pequeñas de la imagen. Con un AFM es posible a la imagen a la superficie en 0.1 resoluciones del nanómetro, (1.0 el × 10⁻¹⁰ m) y genera un mapa 3D de la superficie de la muestra.

El sensor de la punta de prueba del AFM se conoce como voladizo, generalmente una palanca rectangular fina algunos centenares de micrómetros de largo y de algunos micrómetros anchos. Esto se refiere generalmente como voladizo del tablero de salto debido a su forma similar, pero hay varias diversos formas y tamaños disponibles. Un extremo del voladizo se pone a una base inflexible, generalmente llamada un " chip", atado al sostenedor de la extremidad del AFM. El lado opuesto del voladizo está totalmente libre. En este lado libre una extremidad muy fino-acentuada es perpendicular montado al eje longitudinal del voladizo. La distancia del funcionamiento de la extremidad del AFM se acerca generalmente en dos etapas subsecuentes. En la primera etapa (gruesa) la extremidad del AFM se mueve rápido a la muestra usar los motores de escalonamiento exactos. Después de que este movimiento un segundo acercamiento (fino) sea hecho moviendo la muestra con un actuador piezoeléctrico para arriba hacia la extremidad. En esta etapa, debido a la distancia extremadamente corta entre la extremidad y la superficie de la muestra, una puede detectar fácilmente los efectos de las fuerzas atómicas repulsivas/atractivas que dan el nombre a este dispositivo. En el modo que golpea ligeramente del el voladizo es conducido para oscilar hacia arriba y hacia abajo en cercano su frecuencia de la resonancia por un pequeño elemento piezoeléctrico montado en el sostenedor de la extremidad del AFM. La amplitud de esta oscilación es mayor de 10 nanómetro, típicamente 100 a 200 nanómetro. Debido a la interacción de las fuerzas que actúan en el voladizo cuando la extremidad viene cerca de la superficie, de la fuerza de Van der Waals o de la interacción del dipolo-dipolo, de las fuerzas electrostáticas, de la causa del etc la amplitud de esta oscilación disminuir mientras que la extremidad consigue más cercano a la muestra. Un servo electrónico utiliza el actuador piezoeléctrico para controlar la altura del voladizo sobre la muestra. El servo ajusta la altura para mantener una amplitud voladiza de la oscilación del sistema mientras que el voladizo se explora sobre la muestra. Un que golpea ligeramente imagen del AFM por lo tanto es producido por la proyección de imagen la fuerza de los contactos oscilantes de la extremidad con la superficie de la muestra. Esto es una mejora en el contacto convencional AFM, en el cual el voladizo apenas arrastra a través de la superficie en la fuerza constante y puede dar lugar al daño superficial.