La microscopia de ion de campo del (FIM) es una técnica analítica usada en la ciencia material . El microscopio de ion de campo es un tipo del microscopio que se puede utilizar a la imagen el arreglo de los átomos en la superficie de una extremidad de metal aguda. Era la primera técnica por la cual los átomos individuales podrían espacial ser resueltos. La técnica fue iniciada por el Erwin Müller . Las imágenes de estructuras atómicas del tungsteno primero fueron publicadas en 1951 en el für Physik de Zeitschrift del del diario.
En la FIM, (una extremidad de metal aguda del radio de la extremidad de <50 nanómetro) se produce y se pone en un compartimiento del vacío ultra alto, que se rellena con un gas de la proyección de imagen tal como helio o neón . La extremidad se refresca a las temperaturas criogénicas (20-100 K). Un voltaje positivo de 5000 a 10000 voltios se aplica a la extremidad. Los átomos fijado por adsorción del gas en la extremidad son ionizados por el campo eléctrico fuerte en la vecindad de la extremidad (así, " ionization" del campo;), convirtiéndose positivamente - cargado y siendo rechazado de la extremidad. La curvatura del cercano superficial la extremidad causa una ampliación natural - los iones se rechazan en un perpendicular de la dirección áspero a la superficie (un " projection" del punto; efecto). Un detector se coloca para recoger éstos los iones rechazados; la imagen formó de todos los iones recogidos puede estar de suficiente resolución a los átomos individuales de la imagen en la superficie de la extremidad.
Desemejante de los microscopios convencionales, donde la resolución espacial es limitada por la longitud de onda de las partículas que se utilizan para la proyección de imagen, la FIM es un tipo microscopio de la proyección con la resolución atómica y una ampliación aproximada de algunas millón de veces.
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